AES-8000 AC/DC ARC EMISSION SPECTROMETER
แอปพลิเคชันทั่วไป
1. การหาค่า Ag, Sn, B, Mo, Pb, Zn, Ni, Cu และองค์ประกอบอื่น ๆ พร้อมกันในตัวอย่างทางธรณีวิทยานอกจากนี้ยังสามารถใช้สำหรับการตรวจจับร่องรอยขององค์ประกอบโลหะมีค่าในตัวอย่างทางธรณีวิทยา (หลังการแยกและการเพิ่มคุณค่า)
2. การหาธาตุเจือปนหลายชนิดในโลหะที่มีความบริสุทธิ์สูงและออกไซด์ที่มีความบริสุทธิ์สูง ตัวอย่างผง เช่น ทังสเตน โมลิบดีนัม โคบอลต์ นิกเกิล เทลลูเรียม บิสมัท อินเดียม แทนทาลัม ไนโอเบียม ฯลฯ
3. การวิเคราะห์ร่องรอยและธาตุในตัวอย่างผงที่ไม่ละลายน้ำ เช่น เซรามิก แก้ว เถ้าถ่านหิน ฯลฯ
หนึ่งในโปรแกรมสนับสนุนที่ขาดไม่ได้สำหรับตัวอย่างการสำรวจธรณีเคมี
เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการตรวจจับส่วนประกอบที่ไม่บริสุทธิ์ในสารที่มีความบริสุทธิ์สูง
คุณสมบัติ
ระบบการถ่ายภาพด้วยแสงที่มีประสิทธิภาพ
ระบบออปติคอล Ebert-Fastic และเส้นทางออปติคัลสามเลนส์ถูกนำมาใช้เพื่อกำจัดแสงที่เล็ดลอดออกไปได้อย่างมีประสิทธิภาพ กำจัดรัศมีและความคลาดเคลื่อนของสี ลดพื้นหลัง เพิ่มความสามารถในการรวบรวมแสง ความละเอียดที่ดี คุณภาพของเส้นสเปกตรัมที่สม่ำเสมอ และสืบทอดเส้นทางออปติคัลของหนึ่งเดียวอย่างเต็มที่ -มิเตอร์ตะแกรงสเปกโตรกราฟ ข้อดี
- โครงสร้างแสงที่กะทัดรัดและความไวแสงสูง
- คุณภาพของภาพดี ระนาบโฟกัสตรง
- อัตราการกระจายของเส้นกลับหัว 0.64nm/mm;
- ความละเอียดสเปกตรัมทางทฤษฎีคือ 0.003nm (300nm)
เซ็นเซอร์ CMOS อาร์เรย์เชิงเส้นประสิทธิภาพสูงและระบบการรับข้อมูลความเร็วสูง
- ใช้เซ็นเซอร์ CMOS ที่ไวต่อรังสี UV, ความไวแสงสูง, ช่วงไดนามิกกว้าง, การเบี่ยงเบนของอุณหภูมิเล็กน้อยไม่จำเป็นต้องเคลือบ ไม่มีผลขยายสเปกตรัมของอุปกรณ์ ไม่มีปัญหาอายุของฟิล์ม
- ระบบการรับและประมวลผลข้อมูลแบบซิงโครนัสแบบ multi-CMOS ความเร็วสูงที่ใช้เทคโนโลยี FPGA ไม่เพียงแต่ทำให้การวัดเส้นสเปกตรัมขององค์ประกอบเชิงวิเคราะห์เสร็จสมบูรณ์โดยอัตโนมัติเท่านั้น แต่ยังทำให้ฟังก์ชันการสอบเทียบอัตโนมัติของเส้นสเปกตรัมซิงโครนัสและการลบพื้นหลังอัตโนมัติ
แหล่งกำเนิดแสงกระตุ้นส่วนโค้ง AC และ DC
สะดวกในการสลับระหว่างส่วนโค้ง AC และ DCตามตัวอย่างต่างๆ ที่จะทดสอบ การเลือกโหมดการกระตุ้นที่เหมาะสมจะเป็นประโยชน์ต่อการปรับปรุงการวิเคราะห์และผลการทดสอบสำหรับตัวอย่างที่ไม่นำไฟฟ้า ให้เลือกโหมด AC และสำหรับตัวอย่างที่เป็นสื่อไฟฟ้า ให้เลือกโหมด DC
การจัดตำแหน่งอัตโนมัติของอิเล็กโทรด
อิเล็กโทรดด้านบนและด้านล่างจะเลื่อนไปยังตำแหน่งที่กำหนดโดยอัตโนมัติตามการตั้งค่าพารามิเตอร์ของซอฟต์แวร์ และหลังจากการกระตุ้นเสร็จสิ้น ให้ถอดและเปลี่ยนอิเล็กโทรด ซึ่งใช้งานง่ายและมีความแม่นยำในการจัดตำแหน่งสูง
หน้าต่างดูสะดวก
เทคโนโลยีการฉายภาพอิเล็กโทรดที่ได้รับการจดสิทธิบัตรจะแสดงกระบวนการกระตุ้นทั้งหมดบนหน้าต่างสังเกตการณ์ด้านหน้าเครื่องมือ ซึ่งสะดวกสำหรับผู้ใช้ในการสังเกตการกระตุ้นของตัวอย่างในห้องกระตุ้น และช่วยให้เข้าใจคุณสมบัติและพฤติกรรมการกระตุ้นของตัวอย่าง .
ซอฟต์แวร์วิเคราะห์ที่มีประสิทธิภาพ
- การปรับเทียบอัตโนมัติตามเวลาจริงของเส้นสเปกตรัมเพื่อขจัดอิทธิพลของการเลื่อนของเครื่องมือ
- พื้นหลังจะถูกหักออกโดยอัตโนมัติเพื่อลดการแทรกแซงของปัจจัยมนุษย์
- ผ่านอัลกอริธึมการแยกเส้นสเปกตรัม ลดอิทธิพลของการรบกวนทางสเปกตรัม
- การสลับการกำหนดหลายสเปกตรัมโดยอัตโนมัติเพื่อขยายช่วงของเนื้อหาการตรวจจับ
- การผสมผสานระหว่างวิธีการติดตั้งสองวิธีช่วยเพิ่มความแม่นยำในการวิเคราะห์ตัวอย่าง
- ข้อมูลเส้นสเปกตรัมมากมาย ขยายขอบเขตการประยุกต์ใช้ในการวิเคราะห์
- ซอฟต์แวร์วิเคราะห์พิเศษ เหมาะสำหรับการทดสอบตัวอย่างที่แตกต่างกัน
- ฟังก์ชันหลังการประมวลผลข้อมูลที่สะดวกทำให้ขั้นตอนการทดลองสั้นลง และทำให้การประมวลผลข้อมูลมีความยืดหยุ่นมากขึ้น
การป้องกันความปลอดภัย
- การตรวจสอบการไหลของน้ำหล่อเย็นของคลิปอิเล็กโทรดสามารถหลีกเลี่ยงการเผาไหม้ที่อุณหภูมิสูงของคลิปอิเล็กโทรด
- เปิดใช้งานการประสานความปลอดภัยของประตูห้องเพื่อป้องกันความปลอดภัยของผู้ปฏิบัติงาน
พารามิเตอร์
| แบบฟอร์มเส้นทางแสง | ประเภท Ebert-Fastic สมมาตรในแนวตั้ง | ช่วงปัจจุบัน | 2~20A(ไฟฟ้ากระแสสลับ) 2~15A(กระแสตรง) |
| เส้นระนาบตะแกรง | 2400 ชิ้น/มม | แหล่งกำเนิดแสงกระตุ้น | ส่วนโค้ง AC/DC |
| ทางยาวโฟกัสของเส้นทางแสง | 600มม | น้ำหนัก | ประมาณ 180Kg |
| สเปกตรัมทางทฤษฎี | 0.003นาโนเมตร (300นาโนเมตร) | ขนาด (มม.) | 1500(ย)×820(ก)×650(ส) |
| ปณิธาน | 0.64nm/mm (ชั้นหนึ่ง) | อุณหภูมิคงที่ของห้องสเปกโทรสโกปี | 35OC±0.1OC |
| อัตราส่วนการกระจายตัวของสายตก | ระบบการได้มาซึ่งความเร็วสูงแบบซิงโครนัสที่ใช้เทคโนโลยี FPGA สำหรับเซ็นเซอร์ CMOS ประสิทธิภาพสูง | สภาพแวดล้อม | อุณหภูมิห้อง 15 OC~30 OC ความชื้นสัมพัทธ์ <80% |